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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:能量密度分析新材料電學(xué)測試儀

  • 產(chǎn)品型號:Huace
  • 產(chǎn)品廠商:華測
  • 產(chǎn)品價格:0
  • 折扣價格:0
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簡單介紹:
能量密度分析新材料電學(xué)測試儀由華測儀器生產(chǎn),可以通過各功能測試模塊,系統(tǒng)的科研人員從能量密度、功率密度、循環(huán)壽命、防護(hù)性四個方面對新材料性能進(jìn)行分析檢測,評估材料的性能指標(biāo),判斷是否符合應(yīng)用要求。
詳情介紹:

能量密度分析新材料電學(xué)測試儀

測試模塊

01.電壓擊穿(介電場強)

由能量密度可知,擊穿場強相對于介電常數(shù)對于材料能量密度的影響更為突出,獲得高能量密度對復(fù)合材料擊穿場強提出了更高的要求。

能量密度分析新材料電學(xué)測試儀通過上位機系統(tǒng)控制高壓擊穿測試模塊,可以可靠、便捷、準(zhǔn)確的對測試樣品進(jìn)行工頻下的交流、高壓直流擊穿試驗,測試出擊穿場強。甚至可以通過測試軟件設(shè)置直流輸出時間,以完成樣品的極化過程。

02.高低頻介電頻譜、溫譜
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境下儲能新材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。
03.高溫絕緣電阻
高精度的電壓輸出與電流測量,即使在高低溫環(huán)境下也能很好的障蔽背景電流,保障測試品質(zhì),適用與儲能新材料在不同環(huán)境溫度下絕緣性能的檢測。
04.熱釋電測試
不論是薄膜還是塊體形式的儲能材料,都可對其進(jìn)行熱釋電性能測試。采用電流法進(jìn)行測量,材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。
05.TSDC熱刺激極化電流
熱刺激電流(TSC)是研究熱釋電材料中陷阱結(jié)構(gòu)和陷阱結(jié)構(gòu)所控制的空間電荷存貯及運輸特性的工具,同時也是研究熱點材料結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變和分子運動的重要手段。諸如:分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)介電特性。
06.充放電儲能密度測試
用于研究介電儲能材料高電壓放電性能,華測充放電測試具有**設(shè)計的電容放電電路來測量,首先將測試材料充電到給定電壓,之后通過閉合高速MOS高壓開關(guān),將存儲在儲能材料中的能量釋放到電阻器負(fù)載中,更符合電介質(zhì)充放電原理。
07.電聲脈沖法空間電荷測量
空間電荷是指在材料特定區(qū)域內(nèi)電荷分布不均勻的現(xiàn)象。該現(xiàn)象是由于載流子的擴散和漂移運動所導(dǎo)致的,在材料的局部區(qū)域產(chǎn)生了電荷累積,從而使材料改變了原本的電中性狀態(tài)??臻g電荷的存在對材料的電學(xué)性能有著重要的影響,可能導(dǎo)致電場畸變、絕緣性能下降等問題。
電聲脈沖法(PEA)空間電荷測試可以便捷準(zhǔn)確地測量固體儲能材料內(nèi)部空間電荷分布,電聲脈沖法可以測量較厚的介質(zhì),可以在帶電狀態(tài)下直接測量絕緣測試樣品中的空間電荷分布,可測空間電荷密度至小為4μC·cm-3,可測試樣厚度至小為0.2mm。
08.靜電電壓
靜電是一種處于靜止?fàn)顟B(tài)的電荷,雖然其總電荷量不大,但其瞬間釋放所產(chǎn)生的高電壓與大電流非常容易對周邊電路、設(shè)備乃至人員造成損害。對儲能材料的靜電性能(包括面電荷密度與電阻)進(jìn)行測試,可以對后期防靜電工程設(shè)計和改善儲能系統(tǒng)的抗靜電性能設(shè)計提供數(shù)據(jù)支持,對周圍電路的靜電敏感電子元器件選型提供參考依據(jù)。

配置模塊

1.電壓擊穿(介電場強)
測試儀表:高壓電源  
測試環(huán)境配件/夾具:變溫油浴槽  溫度范圍:RT~250℃(視絕緣介質(zhì)性能)
2.高低頻介電溫譜
測試儀表:阻抗分析儀  
測試環(huán)境配件/夾具:高低溫冷熱臺  溫度范圍:-185℃~600℃
高溫近紅外爐  溫度范圍:RT~1450℃
高低溫環(huán)境箱  溫度范圍:-185℃~450℃
3.高溫絕緣電阻測試
測試儀表:高阻計/源表 
測試環(huán)境配件/夾具:高低溫冷熱臺  溫度范圍:-185℃~600℃
高溫近紅外爐  溫度范圍:RT~1450℃
高低溫環(huán)境箱  溫度范圍:-185℃~450℃
4.熱釋電測試
測試儀表:高阻計/靜電計
測試環(huán)境配件/夾具:高低溫冷熱臺  溫度范圍:-185℃~600℃
高低溫環(huán)境箱  溫度范圍:-185℃~450℃
5.TSDC熱刺激電流測試
測試儀表:高阻計/靜電計
測試環(huán)境配件/夾具:高低溫冷熱臺  溫度范圍:-185℃~600℃
高低溫環(huán)境箱  溫度范圍:-185℃~450℃
6.充放電儲能密度測試
測試儀表:充放電測試模塊
測試環(huán)境配件/夾具:變溫測試盒  溫度范圍:RT~250℃(視絕緣介質(zhì)性能)
7.靜電電壓
測試儀表:高阻計/靜電計
測試環(huán)境配件/夾具:靜電變溫測試罐
8.空間電荷測試
測試儀表:示波器+高壓電源+功率放大器  
測試環(huán)境配件/夾具:電聲脈沖法空間電荷測試夾具

拓展資料

能量密度常用計算公式:

中:Uc為電容器的充電能量密度;Ud為電容器的實際放電能量密度;E為外加電場;D為電位移;Dmax為至大電位移;Dr為剩余電位移;ε0為電介質(zhì)的真空介電常數(shù);εr為電介質(zhì)的相對介電常數(shù);Eb為擊穿場強;η為充放電效率。


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